退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:针对集成电路功能分级的定制测试
Suraj Sindia; Vishwani D. Agrawal;
机译:一种用于集成电路的扫描力显微镜测试的新型双功能形貌和电流探针
机译:在电路板和集成电路上执行功能测试的环境
机译:集成氮化硅时间箱纠缠电路
机译:集成电路功能分区的定制测试
机译:超低成本测试仪(VLCT)和LabViewRTM测试平台下电流模式集成电路的测试方法。
机译:通过定制的失活增强合成DNA电路的功能
机译:批量CmOs VLsI技术研究。第5部分:高速集成电路功能测试仪的设计与实现
机译:进入集成电路结构和功能测试,混合以及进入集成电路结构和功能测试的过程的机制和接口
机译:用于测试集成电路的方法以及具有多个功能部件以及在功能部件之间的连接通道中的连接和开关测试部件的集成电路
机译:测试集成电路的方法以及具有各种功能和连接的集成电路,并在功能之间的连接通道中进行开关测试
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。